AOI 平台
ETS 平台
外观类检测系统
模拟电路及信号测试系统
在微观状态下对材料外观进行检测，例如检测玻璃崩角/边,凹凸点和表面划伤导致的缺陷，结合人工复查，对液晶玻璃进行好坏判别
使用了电流耦合型高速DAC和自行研发的分立式高压、高速、高功率放大器，满足了a-Si类和LTPS/IG··ZO类高分辨率中小尺寸面板的测试需求
高速微观检测系统
数字电路及信号测试系统
特殊材料上5倍~150倍放大后的的缺陷检测，人眼无法检测须使用机器完成
使用了可搭载Linux系统的SOC平台和自行研发的高精度、高功率程控电源，在有效控制成本的前提下实现了Mipi、LVDS、edp、V-BY-1等接口的各类模组的测试需求
画面类检测系统
图像信号驱动系统
针对自发光产品的检测，由于液晶本身不发光，此系统可以提供分布均匀的光源，使其能正常显示影像，检测点状，线状，白点，亮点，黑白阴影，投射不均等
模组信号发生器通过PG里面的FPGA生成可配置的标准时序控制信号和接收自外部存储设备的图片数据一起组合生成标准的视频图像信号，经过缓存后编码成不同的数字图像接口（例如：LVDS\eDP\TTL\V-by-one），最终生成上述数字图像信号
测量及引导定位系统
老化信号测试系统
用于快速识别和确定零件的位置和方向。可直接将结果传输到下位机，或者将之用于确定检测所需其他工具的位置
由老化炉体、模组信号发生器组成，验证模组在高温高湿环境下，各部件如Tcon、液晶分子、电路器件的性能及寿命。模组信号发生器，主要驱动屏幕点亮，监控并记录产品各项电学参数的变化情况
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