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U-EYES INTEGRATION 集成开发系统
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ELECTRICAL TESTING 电信号标准测试套件
天时 D-O
天时 D-O
老化点灯测试机,致力于打造全场景智能化测试体验,为显示模组领域带来突破性创新解决方案:
全能信号中枢
智能编辑平台
多场景应用
高效老化测试
单设备输出4路4lane eDP,最多可扩展至16路4lane eDP,支持VDD/VBL两种电源模式,并可提供背光所需的恒流源,全面满足液晶模组的多样化测试需求。
通过专属应用软件,用户可灵活编辑Timing/
Pattern/Program,快速创建定制化老化测试用例,实现高效自动化测试流程。
适用于液晶模组产线、品保验证及研发调试,支持信号、画面、电气等多维度精准测试。
专为液晶模组设计,提供精准的老化测试功能,确保产品在长期使用中的稳定性和可靠性。
灰阶
彩条
放射
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产品功能描述
单色
字符
十字线
彩条
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棋盘格
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返回
·
点灯讯号类型:
·
测试画面:
·
自动切换画面功能
:
·
测试画面配置功能
:
·
系
统软件编
辑:
PC 端软件可根据模组技术规格,编辑开/关电时序、扫描时序、电压电流保护范围及测试画面等参数,提供完整的测试功能,操作便捷
eDP;
支持测试画面自动播放 (画面驻留时间可调) 及手动控制
信号测试系统支持测试画面锁秒、频率、V
DD、VBL、Timing 等
设定功能;
系统对接支持
支持
开放式语言编程
支持
炉体温度控制
保护功能支持
实时监控卡控
采用独立BOX操作控制
支持一对多台设备
第三方支持
CIM
Lua脚本
实时监控
OVP/
OCP
电压电流
支持脱离PC
一拖四
交互/
数据传送
沪ICP备13041349号-1
沪公网安备 31011502020011号
沪ICP备13041349号-
2
沪公网安备 31011502020011号